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          鍍層厚度與ROHS分析儀
          鍍層厚度與ROHS分析儀

          鍍層厚度與ROHS分析儀采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法,基于熒光X射線激發的基本原理,從理論上計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線的熒光強度,在基于此計算Lachance綜合校正系數,然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。、可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。

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